**导材料研究半导体材料特性测试真空高低温探针台

高温400度低温-190度真空探针台（High-temperature 400°C and low-temperature -190°C vacuum probe station）
主要用于材料科学、半导体及纳米技术研究领域。它能够在高温、低温和真空的环境下，对测试样品进行精确的电性能、光学性能等多种物理性能测量。其主要应用包括：

1. 半导体材料特性测试：研究和测试半导体材料的电输运特性、温度特性及其在高低温度及真空环境下的性能变化。
2. 纳米技术研究：用于测试纳米结构器件，如**点、**线、碳纳米管等在高低温度及真空环境下的电学性能。
3. 二维材料研究：对于石墨烯、过渡金属硫属化物等二维材料的研究，在高低温度及真空环境下测试其电学性能和光响应性能。
4. **导材料研究：通过对**导材料在低温及真空条件下的电输运特性和**导相变特性的测量，研究其基本物理性质和应用前景。
5. 光电子器件研究：研究探测器、太阳能电池等光电子器件在高低温度及真空环境下的光学性能、电学性能及其可靠性。
6. 生物及医学方面的研究：在较端温度下，观察生物样品和医学领域的生物标志物的特殊特性。
7. 航空航天领域：为适应高温、低温和真空的特殊环境，测试和优化航空航天部件和材料。

总之，高温低温真空探针台在各类学科研究和产业应用中发挥着关键作用，有助于人们对材料的性能和应用进行较深入、全面的理解和探索。